熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)

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QE-2000熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)瞬間測(cè)量絕.對(duì)量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測(cè)量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的雜散光。

產(chǎn)品型號(hào)：QE-2000

更新時(shí)間：2025-09-16

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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QE-2000熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)

QE-2000瞬間測(cè)量絕.對(duì)量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測(cè)量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的雜散光。另采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系的同時(shí)，運(yùn)用其再激發(fā)熒光補(bǔ)正的優(yōu)點(diǎn)，可進(jìn)行高精度的測(cè)量。
高精度測(cè)量（zhuan.利：5150939號(hào)）：使用低雜散光光譜儀MCPD系列
多次激發(fā)補(bǔ)正（zhuan：3287775號(hào)、4631080號(hào)）：大.程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對(duì)粉末和固體測(cè)試精度提高明顯
使用積分半球（zhuan：4216314號(hào)）：是普通積分球測(cè)試效率的2倍，更易于樣品的裝夾，更換簡(jiǎn)單
多種樣品都能對(duì)應(yīng)：粉體、溶液、薄膜、固體等等
可添加溫控系統(tǒng)：-30~300℃

QE-2000熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)

型號(hào)	3683C		311C		2580C		3095C
波長(zhǎng)范圍	360-830nm		360-1100nm		250-800nm		300-950nm
像元波長(zhǎng)寬度	1.0nm	0.5nm	1.6nm	0.8nm	1.2nm	0.6nm	1.4nm	0.7nm
像元數(shù)	512	1024	512	1024	512	1024	512	1024
CCD	電子冷卻式CCD圖像傳感器
AD轉(zhuǎn)換精度	16 bit
單色器配置	F/#=3, f=85.8mm
光源	150W氙燈
激發(fā)波長(zhǎng)	250-800nm
帶寬	FWHM 5nm/slit 0.6mm
樣品抗光裝置	自動(dòng)關(guān)閉裝置
激發(fā)波長(zhǎng)控制	自動(dòng)控制
積分球材質(zhì)	Spectralon（美國(guó)Labsphere公司zhuan.利材料名）
尺寸	150mm 半球
粉末測(cè)試樣品座	SU304
溶液樣品池	石英制溶液比色皿