產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)漫反射率測試系統(tǒng)
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
漫反射率測試系統(tǒng)光度測量準確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）,漫反射率測試系統(tǒng)光度測量重復(fù)性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm
更新時間：2025-09-16
產(chǎn)品型號：S-MRS系列
瀏覽量：2464
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
